滑移過程的機(jī)制終歸結(jié)為位錯(cuò)沿滑移面的運(yùn)動(dòng),。在此基礎(chǔ)上可以想象,,范性形變所需的力應(yīng)該是用于克服位錯(cuò)產(chǎn)生、增殖和運(yùn)動(dòng)時(shí)所遇到的障礙,,而形變速度則決定于單位體積中位錯(cuò)數(shù)量的多少,,以及位錯(cuò)本身的運(yùn)動(dòng)速度。由于位錯(cuò)附近的原子已經(jīng)從點(diǎn)陣的平衡位置移動(dòng)出來,,使位錯(cuò)前進(jìn)一個(gè)原子間距,,所要求原子的移動(dòng)距離是很小的,而且隨著位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng),在一些原子勢(shì)能升高的同時(shí)另一些原子勢(shì)能降低,,總能量變化很小,,所以晶體以位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)的機(jī)制逐步滑移,比無位錯(cuò)完整晶體作剛性相對(duì)滑移所需的力要小得多,;在后一種情況下,,要經(jīng)歷滑移面上的全部原子同時(shí)向高能位置移動(dòng)的過程。然而,,位錯(cuò)畢竟要克服勢(shì)壘才能前進(jìn),,這種來源于晶體周期性結(jié)構(gòu)的阻力稱為點(diǎn)陣阻力。點(diǎn)陣阻力與原子間結(jié)合鍵的性質(zhì)密切相關(guān),。金屬晶體在范性性質(zhì)上與共價(jià)晶體和多數(shù)離子晶體具有顯著差異的根本原因,,在于點(diǎn)陣阻力較小。晶體中的各種缺陷如點(diǎn)缺陷,、其他位錯(cuò)、晶粒間界,、二相質(zhì)點(diǎn)等,,對(duì)位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)也產(chǎn)生阻力。
同時(shí),,金屬晶體就是依靠各正離子與公有的自由電子間的相互引力而結(jié)合起來的,,而離子與離子間以及電子與電子間的斥力則與這種引力相平衡,使金屬處于穩(wěn)定的晶體狀態(tài),。金屬原子的這種結(jié)合方式稱為“金屬鍵”,。范性形變引起原子結(jié)合鍵的變化和原子間的距離增大, 也對(duì)電阻率有影響。
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