通過(guò)上面論述可知,影響應(yīng)變傳感器穩(wěn)定性的主要因素是溫度,,范性形變,,幾何形變。溫度的變化引起應(yīng)變片電阻率變化及幾何形變,,從而導(dǎo)致應(yīng)變傳感器零輸出時(shí)的漂移,。范性形變改變了電阻率,導(dǎo)致電阻值改變,。在應(yīng)變片使用中,,粘貼方法,殘余應(yīng)力等產(chǎn)生應(yīng)變片的幾何形變,。
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公司傳真:0592-5580710 改善應(yīng)變式傳感器穩(wěn)定性方法探討
解決應(yīng)變式傳感器零點(diǎn)輸出長(zhǎng)期穩(wěn)定性的問(wèn)題, 就必須解決傳感器制造工藝和整個(gè)傳感器制造過(guò)程中控制電阻材料的電阻率變化因素,、基底膠和彈性體材料的應(yīng)力狀態(tài)、幾何尺寸的變化問(wèn)題,。怎樣解決這些問(wèn)題是具體的技術(shù)問(wèn)題,。在實(shí)際工程中,可以從以下方面改善應(yīng)變式傳感器穩(wěn)定性,。l Invensys Foxboro(??怂共_):I/A Series系統(tǒng),F(xiàn)BM(現(xiàn)場(chǎng)輸入/輸出模塊)順序控制,、梯形邏輯控制,、事故追憶處理、數(shù)模轉(zhuǎn)換,、輸入/輸出信號(hào)處理,、數(shù)據(jù)通信及處理等。
l Invensys Triconex: 冗余容錯(cuò)控制系統(tǒng),、基于三重模件冗余(TMR)結(jié)構(gòu)的現(xiàn)代化的容錯(cuò)控制器,。
l Westinghouse(西屋): OVATION系統(tǒng)、WDPF系統(tǒng),、WEStation系統(tǒng)備件,。
l Rockwell Allen-Bradley: Reliance瑞恩,、SLC500/1747/1746、MicroLogix/1761/1763/1762/1766/1764,、CompactLogix/1769/1768,、Logix5000/1756/1789/1794/1760/1788、PLC-5/1771/1785等,。
l Schneider Modicon(施耐德莫迪康):Quantum 140系列處理器,、控制卡、電源模塊等,。
l ABB:工業(yè)機(jī)器人備件DSQC系列,、Bailey INFI 90等。
l Siemens(西門(mén)子):Siemens MOORE,, Siemens Simatic C1,,Siemens數(shù)控系統(tǒng)等。
l Motorola(摩托羅拉):MVME 162,、MVME 167,、MVME1772、MVME177等系列,。
l XYCOM:I/O 、VME板和處理器等,。
TEAC MR30 Cassette Data Recorder
Anritsu MN1505A + MN1613A Branch
Anritsu MP0101A x 1set + MP0103A Converter Unit x 2sets
Advantest R3541A Modulation Accuracy Measurement x 2
Advantest R3541B + R3541C Digital Modulation Accuracy
Agilent/HP 16505A Prototype Analyzer
Ando AP9930 SONET/SDH Analyzer
Agilent/HP PT500 Protocol Tester
Hioki 3263 AC Clamp On Ammeter x 4 sets