1、HJRD31導波雷達物位計產品概述:
HJRD31導波雷達物位計是采用微波技術來檢測料位的高科技產品,,該料位儀利用微波具有穿透性好,,對惡劣環(huán)境及被測物料適應性強等特點,采用上先進的大規(guī)模集成電路,,利用雷達原理,、數(shù)字信號處理技術和快速傅里葉變換(FFT)技術。采用連續(xù)式乍動測量,,能測量液體,、固體(塊狀、粉狀)料位,,具有測距遠,、精度高等特點。
HJRD31導波雷達物位計具有低維護,,高性能,、高精度、高可靠性,,使用壽命長等優(yōu)點,。在與電容,重錘等接觸式儀表相比較,,具有無可比擬的優(yōu)越性,。微波信號的傳輸不受大氣的影響,所以它可以滿足工藝過程中揮發(fā)性氣體,、高溫,、高壓、蒸汽,、真空及高粉塵等惡劣環(huán)境的要求,。該產品適用于高溫、高壓,、真空,、蒸汽、高粉塵及揮發(fā)性氣體等惡劣環(huán)境??蓪Σ煌衔贿M行連續(xù)測量,。該儀器主要技術指標達到或優(yōu)于國內外同類產品,且安裝調試簡便,可以單臺使用,,也可組網使用,,可廣泛應用于冶金、建材,、能源,、石化、水利,、糧食等行業(yè),。
HJRD31導波雷達物位計具有低維護,,高性能,、高精度、高可靠性,,使用壽命長等優(yōu)點,。在與電容,重錘等接觸式儀表相比較,,具有無可比擬的優(yōu)越性,。微波信號的傳輸不受大氣的影響,所以它可以滿足工藝過程中揮發(fā)性氣體,、高溫,、高壓、蒸汽,、真空及高粉塵等惡劣環(huán)境的要求,。該產品適用于高溫、高壓,、真空,、蒸汽、高粉塵及揮發(fā)性氣體等惡劣環(huán)境??蓪Σ煌衔贿M行連續(xù)測量,。該儀器主要技術指標達到或優(yōu)于國內外同類產品,且安裝調試簡便,可以單臺使用,,也可組網使用,,可廣泛應用于冶金、建材,、能源,、石化、水利,、糧食等行業(yè),。
2、HJRD31導波雷達物位計技術參數(shù):
應 用:液體,、固體顆粒
測量范圍:30米
過程連接:螺紋,、法蘭
過程溫度:-40~250℃
過程壓力:-0.1~2MPa
精 度:±3mm
頻率范圍:100MHZ-1.8GHZ
防爆等級:Exia IIC T6
防護等級:IP67
信號輸出:4—20mA/HART(兩線)
測量范圍:30米
過程連接:螺紋,、法蘭
過程溫度:-40~250℃
過程壓力:-0.1~2MPa
精 度:±3mm
頻率范圍:100MHZ-1.8GHZ
防爆等級:Exia IIC T6
防護等級:IP67
信號輸出:4—20mA/HART(兩線)
3、HJRD31導波雷達物位計使用說明:
測量原理
HJRD31導波雷達物位計是基于時間行程原理的測量儀表,,雷達波以光速運行,,運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜繩傳播,,當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收,,并將距離信號轉化為物位信號。
HJRD31導波雷達物位計是基于時間行程原理的測量儀表,,雷達波以光速運行,,運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜繩傳播,,當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收,,并將距離信號轉化為物位信號。
輸入
反射的脈沖信號沿纜繩傳導至儀表電子線路部分,,微處理器對此信號進行處理,,識別
出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成,,距離物料表
面的距離 D 與脈沖的時間行程 T 成正比: D=C×T/2 其中 C 為光速
因空罐的距離 E 已知,,則物位 L 為: L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度 E(= 零點),滿罐高度 F(= 滿量程)及一些應用參數(shù)來設定,,應
用參數(shù)將自動使儀表適應測量環(huán)境,。對應于 4-20mA輸出。
反射的脈沖信號沿纜繩傳導至儀表電子線路部分,,微處理器對此信號進行處理,,識別
出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成,,距離物料表
面的距離 D 與脈沖的時間行程 T 成正比: D=C×T/2 其中 C 為光速
因空罐的距離 E 已知,,則物位 L 為: L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度 E(= 零點),滿罐高度 F(= 滿量程)及一些應用參數(shù)來設定,,應
用參數(shù)將自動使儀表適應測量環(huán)境,。對應于 4-20mA輸出。
測量范圍
F---- 測量范圍
E---- 空罐距離
B---- 頂部盲區(qū)
K---- 探頭到罐壁的小距離
頂部盲區(qū)是指物料高料面與測量參考點之間的小距離,。
底部盲區(qū)是指纜繩底部附近無法精確測量的一段距離,。
頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
F---- 測量范圍
E---- 空罐距離
B---- 頂部盲區(qū)
K---- 探頭到罐壁的小距離
頂部盲區(qū)是指物料高料面與測量參考點之間的小距離,。
底部盲區(qū)是指纜繩底部附近無法精確測量的一段距離,。
頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。