牛津儀器X-Strata920、CMI900專用探測(cè)器

鍍層測(cè)厚儀X-Strata920系列，屬于X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x,，廣泛應(yīng)用于PCB,、FPC,、LED,、SMT,、連接器,、端子,、五金產(chǎn)品、汽車零部件,、衛(wèi)浴潔具,、珠寶等行業(yè)的表面鍍層厚度測(cè)量、材料分析,；是各類電鍍產(chǎn)品鍍層厚度測(cè)量的理想檢測(cè)工具,。

鍍層測(cè)厚儀X-Strata920系列具有高性價(jià)價(jià)比，有著非破壞,、非接觸,、多合金測(cè)量、測(cè)量元素范圍廣,、測(cè)量精準(zhǔn),、測(cè)量時(shí)間短等特點(diǎn)；具有高生產(chǎn)力,、高再現(xiàn)性,，能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量,，節(jié)約電鍍成本。

鍍層測(cè)厚儀X-Strata920工作特點(diǎn)：

l 測(cè)量精度高,、穩(wěn)定性好,，測(cè)量結(jié)果精確至μin

l 快速無損測(cè)量，測(cè)量時(shí)間短,，10秒內(nèi)得出測(cè)量結(jié)果

l 可定性,、半定量和定量分析

l 進(jìn)行貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)

l 材料鑒別和分類檢測(cè),，材料和合金元素分析,，元素光譜定性分析

l 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能：平均值,、標(biāo)準(zhǔn)偏差,、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、大值,、小值,、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào),、CP,、CPK、控制上限圖,、控制下限圖,，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表,、直方圖

l 結(jié)果輸出：直接打印或一鍵導(dǎo)出到PDF,、Excel文件；報(bào)告包含數(shù)據(jù),、圖像,、統(tǒng)計(jì)圖表、等

l 測(cè)量位置預(yù)覽功能,；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng),，標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍

l 激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能；單擊鼠標(biāo),，Z軸自動(dòng)掃描,，鐳射聚焦