博曼臺式x射線測厚儀可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr,，Cu，Ag,，Au,，Sn等,。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金,。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金,。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu,，Au/Ag/Ni,，Sn/Cu/Brass，等等,。
雙鍍層,，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe,。
博曼臺式x射線測厚儀能實現(xiàn)如下測試要求：
符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度,，包括金屬和部分非金屬鍍層
至多同時分析25種元素
經(jīng)實踐驗證、堅固,、耐用的設(shè)計,，可在絕大多數(shù)嚴苛的工業(yè)條件下使用。
空間占用小 –節(jié)約寶貴的工作臺空間,，也可近產(chǎn)線放置,。
計算機提供USB和以太網(wǎng)接口用于連接打印機、光驅(qū)和網(wǎng)絡(luò),。
行業(yè)用于電子元器件,，半導(dǎo)體，PCB,，LED支架,，五金電鍍，連接器等……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量. 
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