元素分析檢出限可達2ppm,,分析含量一般為2ppm到99.9%。鍍層厚度薄可達0.005um,,一般在20um內(不同材料有所不同),。
小孔準直器(小直徑0.1mm),測試光斑在0.2mm以內,。高精度移動平臺(定位精度小于0.005mm),。
任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型,。多次測量重復性可達0.05um(對少于1um的外層Au),。
長期工作穩(wěn)定性為0.1um(對少于1um的外層Au)。溫度適應范圍為15℃至30℃,。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
博曼膜厚儀尺寸:576 x 495x545 mm重量:90 kg標準配置開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺,,探測器和X光管上下可動,,實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置,。鉛玻璃屏蔽罩,。Si-Pin探測器。信號檢測電子電路,。高低壓電源,。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機
博曼膜厚儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨特的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統(tǒng),。特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量,。測量更小,、更快,、更薄bowman比現(xiàn)有
其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速,。這是由包括準直器,、探測器、信息處理器和計算機等部件在內的一整套專利系統(tǒng)完成的,。
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